ATE测试设备介绍
V93000
设备类型:测试机 功能用途:芯片测试
配备有爱德万V93000-STH和V93000-CH测试机,板卡配置包括DPS128HC、DPS128HV、DPS64、UHC4、AVI64、PS1600、PSSL、WSMAX等,设备支持SMT7和SMT8双版本软件。可以搭配三温探针台DD方式测试晶圆,也可以搭配探针台做封装测试。
S100
配备有久元S100-7D测试机,Logic板卡多张,可以搭配探针台通过排线的方式晶圆测试,也可以搭配分选机/热流罩做封装测试。
STS8200
配备有华峰科技STS8200测试机,板卡配置包括FOVI100、FPVI10、QTMU、DIO、QVM、CBIT128、SOVI40、HVS2000、HCB200等。可以搭配探针台通过排线的方式晶圆测试,也可以搭配分选机/热流罩做封装测试。
T800A
配备有悦芯科技T800A测试机,HDM800板卡多张,可以搭配探针台通过排线的方式晶圆测试,也可以搭配分选机/热流罩做封装测试。
AP3000E
设备类型:探针台 功能用途:搭配ATE作晶圆测试
配备有东京精密8/12寸探针台AP3000E,其中兼容-55℃~200℃的温度,既可以搭配V93000测试机DD的方式测试,也可以搭配其他测试设备排线的方式测试。
T5503HS2ES
配备有爱德万T5503HS2ES测试机,板卡配置包括4块9G PE板卡,一块PPS,一块UMCONT,一块THDIST,一块ADM等,可以搭配热流仪做封装测试。
EXCEED-9808
设备类型:分选机 功能用途:搭配ATE做FT测试
配备有金海通EXCEED-9808平移式三温分选机,兼容-55℃~155℃的温度,最高支持8site同测数,支持大于3mm*3mm的封装尺寸测试,既可以搭配V93000测试机DD的方式测试,也可以搭配其他测试设备排线的方式测试。
EXCEED-6080H
配备有金海通EXCEED-6080H平移式常高温分选机,兼容-55℃~155℃的温度,最高支持8site同测数,支持大于3mm*3mm的封装尺寸测试,既可以搭配V93000测试机DD的方式测试,也可以搭配其他测试设备排线的方式测试。
PH-8200
设备类型:分选机 功能用途:搭配ATE作FT测试
配备有派利德PH-8200转塔式分选机,兼SOP8_150mil和SOP8_208mil的封装尺寸,最高支持4site同测数。散装进料,支持料管和卷盘两种出料,支持外观光检功能,UPH≥30K/H,可以搭配S100测试机排线连接进行测试
MC-812
设备类型:温箱
配备有espec的MC-812三温温箱,能提供-85℃~180℃的温度范围,可以和任意测试机搭配使用
TS-760
设备类型:热流仪
配备有中冷TS-760热流仪,能提供-70℃~225℃的温度范围,可以和任意测试机搭配使用,